Design for Testability
Der Weg zum testbaren Design, made by beflex.
beflex unterstützt Sie gerne bei:
- der optimalen Teststrategie der Baugruppe (AOI, X-Ray, Flying Probe, Boundary Scan, Funktionstest, Dichtigkeitstest, usw.)
- der Prüfung von erforderlichen Testpunkten auf der Leiterplatte
- der Suche nach der geeigneten Testanbindung
Durch diese Maßnahmen stellen wir sicher, dass Ihre Baugruppe auch unter Serienbedingungen mit der erforderlichen Prüftiefe getestet werden kann.
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Kundennähe ist keine Frage der Distanz, sondern Einstellungssache.
Die KATEK Frickenhausen GmbH, beflex electronic GmbH und bebro electronic s.r.o.
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